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半導体光集積デバイスおよびその製造方法

文献类型:专利

作者▲濱▼本 貴一; 佐々木 達也
发表日期1996-01-19
专利号JP1996018147A
著作权人日本電気株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体光集積デバイスおよびその製造方法
英文摘要【目的】内部損失の低減及び量産性の向上を目的とする。 【構成】n-InP半導体基板上1に少なくとも、アンドープInGaAsP半導体ガイド層、InP埋め込み層が積層され、前記アンドープInGaAsPガイド層が、受動光デバイス領域8では15μm組成アンドープInGaAsP導波層3で、能動光デバイス領域9では3μm組成アンドープInGaAsP活性層4であり、かつ、光伝搬方向に連続して形成されており、InP埋め込み層が、受動光デバイス領域ではアンドープInP埋め込み層5であり、能動光デバイス領域ではp-InP埋め込み層6で構成される。
公开日期1996-01-19
申请日期1994-06-27
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67481]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日本電気株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
▲濱▼本 貴一,佐々木 達也. 半導体光集積デバイスおよびその製造方法. JP1996018147A. 1996-01-19.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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