High reliability etched-facet photonic devices
文献类型：专利
| 作者 | BEHFAR ALEX A |
| 发表日期 | 2007-07-12 |
| 专利号 | WO2006089128A3 |
| 著作权人 | BINOPTICS CORPORATION |
| 国家 | 世界知识产权组织 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | High reliability etched-facet photonic devices |
| 英文摘要 | Semiconductor photonic device surfaces are covered with a dielectric or a metal protective layer. The protective layer covers the entire device, including regions near facets at active regions, to prevent bare or unprotected semiconductor regions, thereby to form a very high reliability etched facet photonic device. |
| 公开日期 | 2007-07-12 |
| 申请日期 | 2006-02-17 |
| 状态 | 未确认 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67516]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | BINOPTICS CORPORATION |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | BEHFAR ALEX A. High reliability etched-facet photonic devices. WO2006089128A3. 2007-07-12. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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