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III族窒化物結晶基板、エピ層付III族窒化物結晶基板、ならびに半導体デバイスおよびその製造方法

文献类型:专利

作者石橋 恵二; 善積 祐介
发表日期2011-04-14
专利号JP2011073957A
著作权人住友電気工業株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名III族窒化物結晶基板、エピ層付III族窒化物結晶基板、ならびに半導体デバイスおよびその製造方法
英文摘要(修正有) 【課題】発光のブルーシフトが抑制された発光デバイスの製造に好適なIII族窒化物結晶基板、エピ層付III族窒化物結晶基板、ならびに半導体デバイスおよびその製造方法を提供する。 【解決手段】III族窒化物結晶基板1の任意の特定結晶格子面のX線回折条件を満たしながら結晶基板の主表面1sからのX線侵入深さを変化させるX線回折測定から得られる特定結晶格子面の面間隔において、0.3μmのX線侵入深さにおける面間隔d1と5μmのX線侵入深さにおける面間隔d2とから得られる|d1-d2|/d2の値で表される結晶基板の表面層の均一歪みが9×10-3以下であり、主表面の面方位が、結晶基板の(0001)面または(000-1)面1cから方向に10°以上80°以下で傾斜したIII族窒化物結晶基板1。 【選択図】図6
公开日期2011-04-14
申请日期2009-12-18
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67621]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位住友電気工業株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
石橋 恵二,善積 祐介. III族窒化物結晶基板、エピ層付III族窒化物結晶基板、ならびに半導体デバイスおよびその製造方法. JP2011073957A. 2011-04-14.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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