バーンイン装置
文献类型：专利
| 作者 | 上山 明紀 |
| 发表日期 | 2013-12-26 |
| 专利号 | JP2013257266A |
| 著作权人 | SHARP CORP |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | バーンイン装置 |
| 英文摘要 | 【課題】 複数の半導体レーザをバーンイン試験およびエージング試験するバーンイン装置であって、半固定抵抗器を用いることなく、検査データを取得する各検出部の回路構成部品の校正を正確に行うことができるバーンイン装置を提供する。 【解決手段】 バーンイン装置1は、校正用半導体レーザLDがそれぞれ装着可能な複数のレーザ検査部4と、複数のレーザ検査部4を制御するMPU20とを有し、各レーザ検査部4は、基準電圧信号の入力を受けて校正用半導体レーザLDに駆動電流Idrを供給するLD駆動回路11と、駆動電流Idrによって駆動された校正用半導体レーザLDの動作特性を検出する検出部と、LD駆動回路11に基準電圧信号Vrefを出力するDAC16とを有し、MPU20は、各レーザ検査部4に装着された校正用半導体レーザLDが、レーザ検査部4ごとに個別に駆動するように、各DAC16に基準電圧信号Vrefを出力させる。 【選択図】 図1 |
| 公开日期 | 2013-12-26 |
| 申请日期 | 2012-06-14 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/67946]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | SHARP CORP |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 上山 明紀. バーンイン装置. JP2013257266A. 2013-12-26. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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