光走査光学装置
文献类型：专利
| 作者 | 長坂 泰志; 長岡 敦; 松尾 隆宏 |
| 发表日期 | 2012-02-23 |
| 专利号 | JP2012037784A |
| 著作权人 | KONICA MINOLTA BUSINESS TECHNOLOGIES INC |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光走査光学装置 |
| 英文摘要 | 【課題】光束を分離して光学性能を測定可能であって、かつ、感光体を露光する光束に光学性能の悪化や変化を生じないようにした光走査光学装置を得る。 【解決手段】レーザダイオード11から放射された光束をポリゴンミラー14で偏向し、偏向された後の光束を走査レンズ21,22を透過させ、感光体40上に集光させる光走査光学装置。走査レンズ21,22を経た後の光束を反射及び透過させて分離するハーフミラー24と、光束の光学性能を測定するためのセンサ25とを備えている。ハーフミラー24に至る光束が収束光又は発散光であり、ハーフミラー24で反射された光束が感光体40上に導かれ、かつ、ハーフミラー24を透過した光束がセンサ25に導かれる。 【選択図】図1 |
| 公开日期 | 2012-02-23 |
| 申请日期 | 2010-08-10 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/68353]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | KONICA MINOLTA BUSINESS TECHNOLOGIES INC |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 長坂 泰志,長岡 敦,松尾 隆宏. 光走査光学装置. JP2012037784A. 2012-02-23. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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