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半導体レーザ及びその製造方法

文献类型:专利

作者紀川 健
发表日期2001-02-16
专利号JP2001044556A
著作权人HITACHI LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザ及びその製造方法
英文摘要【課題】 従来の高出力半導体レーザで、特に赤色系高出力半導体レーザでは、定光出力連続動作に伴って急速に水素化非晶質硅素薄膜の劣化が生じ、十分な寿命時間を有する高信頼な高屈折率膜を得ることができなかった。 【解決手段】 水素化非晶質硅素薄膜を成膜する際に、反応プラズマ中に活性な水素ラジカル線、若しくは水素イオン線を照射する。 【効果】 Si-H結合の濃度が増大し、光学的バンドギャップが拡大し、バンドの裾が殆ど引かない水素化非晶質硅素膜が形成可能となり、高出力半導体レーザにおいて長寿命,高信頼な高反射率膜を容易な方法で実現でき、歩留まり向上,低コスト化が達成できる。
公开日期2001-02-16
申请日期1999-07-29
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/71557]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位HITACHI LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
紀川 健. 半導体レーザ及びその製造方法. JP2001044556A. 2001-02-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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