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半導体レーザ装置

文献类型:专利

作者西村 哲二; 尾松 英文
发表日期2004-04-30
专利号JP2004130339A
著作权人MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザ装置
英文摘要【課題】従来の半導体レーザ加工装置では、被加工物105からの散乱反射光107により集光光学素子102が加熱されて温度上昇し、長時間の加工を行うと光学部品としての使用温度限界に達する、あるいは温度上昇に伴い集光光学素子102の焦点距離が変化する為に加工品質が安定しないという課題を有していた。またこれらを防止する為に冷却用のホルダなどを取付けたりしているが、反射光によって配管部材の継手108やホース109が損傷するという課題もあわせ持っていた。本発明は、光学素子の温度上昇を抑制し、安定した加工品質を保つ半導体レーザ加工装置を提供する。 【解決手段】半導体レーザ装置の筐体5の内壁に冷却水路10を設け、被加工物6からの散乱放射光9に対して集光光学素子2やそのホルダ3に当たることによる光学素子の温度上昇を防止させる。 【選択図】 図1
公开日期2004-04-30
申请日期2002-10-09
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/73092]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
西村 哲二,尾松 英文. 半導体レーザ装置. JP2004130339A. 2004-04-30.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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