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光半導体装置の製造方法

文献类型:专利

作者小林 宏彦; 小滝 裕二
发表日期1998-05-06
专利号JP1998117038A
著作权人富士通株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名光半導体装置の製造方法
英文摘要【課題】 光半導体装置の製造方法に関し、活性層幅を制御性及び再現性良く規定できるのは勿論のこと、絶縁膜をメサ頂面に形成することなく、メサと電流ブロック層とをセルフ·アライメントの関係を維持できるようにし、絶縁膜エッチングの微妙な制御などを不要にしようとする。 【解決手段】 基板21上に高抵抗層22を成長させ、高抵抗層22上の全面に絶縁膜を形成し、該絶縁膜にストライプの開口を形成し、該開口をもつ絶縁膜をマスクとして高抵抗層22をエッチングして基板21の一部を表出させ、該絶縁膜をマスクとしてバッファ層24及び活性層25及びクラッド層26を含む半導体層を該表出された基板21の一部にメサ状に成長させる。
公开日期1998-05-06
申请日期1996-10-15
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/76076]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位富士通株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
小林 宏彦,小滝 裕二. 光半導体装置の製造方法. JP1998117038A. 1998-05-06.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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