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光半導体装置及びその製造方法

文献类型:专利

作者小林 宏彦; 雙田 晴久; 江川 満; 岡崎 二郎; 荻田 省一; 藤井 卓也
发表日期2004-04-30
专利号JP3548986B2
著作权人富士通株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名光半導体装置及びその製造方法
英文摘要【目的】光通信、光ディスク装置、光インターコネクションなどの光源に用いられる光半導体装置に関し、導波路での光吸収を小さくし、低閾値で安定なレーザ発振すること。 【構成】光を発振させる利得領域Aから光を発振させずに導波するモード変換領域Bにかけて形成され、且つ、該モード変換領域Bでは層数を変えずに該利得領域Aから離れるにつれて膜厚が薄く形成され、さらに該モード変換領域Bでの入射端の膜厚は出射端の膜厚に比べて2倍以上となるストライプ状の量子井戸構造層6と、前記量子井戸構造層6を挟む第一及び第二のクラッド層2,8とを含む。
公开日期2004-08-04
申请日期1994-07-18
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/78051]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位富士通株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
小林 宏彦,雙田 晴久,江川 満,等. 光半導体装置及びその製造方法. JP3548986B2. 2004-04-30.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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