半导体元件的制造方法
文献类型:专利
作者 | 山田由美; 和泉亮 |
发表日期 | 2006-04-12 |
专利号 | CN1759509A |
著作权人 | 古河电气工业株式会社 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 半导体元件的制造方法 |
英文摘要 | 一种半导体元件的制造方法,其制造含有混晶化的区域的半导体元件,其包括:在与窗结构(14)对应的部分形成混晶化促进膜(8)的工序;利用催化剂CVD法在窗结构(14)以外的部分至少形成保护膜(9)的工序;通过热处理对窗结构(14)部分进行混晶化的工序,由此,仅将窗结构等的要局部混晶化的部分混晶化,不影响其它不混晶化的部分,而制造半导体激光元件等半导体元件,制造出高功率、寿命长且可靠性高的半导体元件。 |
公开日期 | 2006-04-12 |
申请日期 | 2004-04-19 |
状态 | 授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/79632] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 古河电气工业株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 山田由美,和泉亮. 半导体元件的制造方法. CN1759509A. 2006-04-12. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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