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窒化物系半導体レーザ装置

文献类型:专利

作者田中 明; 菅原 秀人
发表日期2008-02-28
专利号JP2008047688A
著作权人株式会社東芝
国家日本
文献子类发明申请
其他题名窒化物系半導体レーザ装置
英文摘要【課題】動作電圧が低減された窒化物系半導体レーザ装置を提供する。 【解決手段】窒化物系半導体からなる活性層と、前記活性層の上に設けられ、前記活性層からのキャリアのオーバーフローを抑制する第1導電型の第1の窒化物系半導体を含むオーバーフロー防止層と、前記オーバーフロー防止層の上に隣接して設けられ、第1導電型の第2の窒化物系半導体を含む中間層と、前記中間層の上に設けられ、第1導電型の第3の窒化物系半導体を含むクラッド層と、を備え、前記第1の窒化物系半導体と、前記第2の窒化物系半導体と、前記第3の窒化物系半導体は、同一の元素を含み、前記同一の元素の組成比は、前記第1の窒化物系半導体、前記第2の窒化物系半導体、前記第3の窒化物系半導体の順に小さくなることを特徴とする窒化物系半導体レーザ装置が提供される。 【選択図】図1
公开日期2008-02-28
申请日期2006-08-15
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/81001]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位株式会社東芝
推荐引用方式
GB/T 7714
田中 明,菅原 秀人. 窒化物系半導体レーザ装置. JP2008047688A. 2008-02-28.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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