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光半導体装置

文献类型:专利

作者秋山 傑; 雙田 晴久; 関口 茂昭
发表日期2007-03-30
专利号JP3936256B2
著作权人富士通株式会社
国家日本
文献子类授权发明
其他题名光半導体装置
英文摘要【課題】マッハツェンダ型干渉計を有する光半導体装置に関し、電界と半導体のオーバーラップによる電機信号の損失を従来よりも低減すること。 【解決手段】半導体基板1の上に形成された互いに分離された上側クラッド層12,13及びコア層11をそれぞれ有する第1及び第2の光導波路5,6と、第1及び第2の光導波路5,6の上にそれぞれ形成された第1、第2の位相変調電極18a,18bと、第1及び第2の光導波路5,6の両側方の半導体基板1の上に形成され且つエアブリッジ配線19a,19bを介して第1の位相変調電極18aと第2の位相変調電極18bに別々に接続される第1のスロットライン電極17aと第2のスロットライン電極17bとを含む。 【選択図】 図7
公开日期2007-06-27
申请日期2002-07-18
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/81323]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位富士通株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
秋山 傑,雙田 晴久,関口 茂昭. 光半導体装置. JP3936256B2. 2007-03-30.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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