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光半導体装置とその製造方法

文献类型:专利

作者阪田 康隆
发表日期1998-06-26
专利号JP1998173277A
著作权人日本電気株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名光半導体装置とその製造方法
英文摘要【目的】 スポットサイズ変換(SSC)機能を有する領域においても光学利得が得られるようにして、低閾値電流で高温特性の劣化のないLDを提供する。 【構成】 InP基板101上に、ストライプ状の開口を有しマスク幅が導波方向で変化する一対のマスク(図示なし)を形成し、SCH層(光閉じ込め層)103、MQW層104、SCH層105を、103、105は高圧の成長圧力で、104の少なくとも井戸層は低圧の成長圧力でMOVPE選択成長する。これにより、103、105はマスク幅の広い部分では厚く狭い部分では薄く形成されるが、104の井戸層は全領域において一定の膜厚、一定のバンドギャップに形成される。p-InP層107、n-InP層108、p-InP層109を選択成長し、更にクラッド層110、キャップ層111を形成する。
公开日期1998-06-26
申请日期1996-12-05
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/81622]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日本電気株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
阪田 康隆. 光半導体装置とその製造方法. JP1998173277A. 1998-06-26.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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