超声检测图像分辨率的维纳滤波去卷积研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 程建政 |
| 刊名 | 无损检测
 |
| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 026期号:005页码:221 |
| ISSN号 | 1000-6656 |
| 英文摘要 | 为了研究改善超声检测横向分别率以及缺陷检测精度的方法，对聚焦换能器和非聚焦换能器的超声检测成像结果进行了比较，结果表明聚焦换能器在焦点位置具有较高的横向分辨率。为了提高平面非聚焦换能器的成像分辨率，根据平面换能器的平底孔散射模型，计算出换能器的点扩展函数，并利用维纳(Wiener)滤波进行去卷积研究。结果表明，只要选取适当的滤波参数，去卷积处理能有效改善成像检测的横向分辨率。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.wipm.ac.cn/handle/112942/18543]  |
| 专题 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院武汉物理与数学研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程建政. 超声检测图像分辨率的维纳滤波去卷积研究[J]. 无损检测,2004,026(005):221. |
| APA | 程建政.(2004).超声检测图像分辨率的维纳滤波去卷积研究.无损检测,026(005),221. |
| MLA | 程建政."超声检测图像分辨率的维纳滤波去卷积研究".无损检测 026.005(2004):221. |
入库方式： OAI收割
来源：武汉物理与数学研究所
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