大口径细光束自准直测量系统的误差源分析
文献类型:期刊论文
作者 | 赵玉平; 彭川黔; 王劼 |
刊名 | 半导体光电 |
出版日期 | 2018-06-11 |
卷号 | 39期号:03页码:414-419 |
关键词 | 自准直系统 误差源分析 细光束 发散度 精度 |
文献子类 | 期刊论文 |
英文摘要 | 为了满足自准直系统的高精度要求,同时扩展其适用范围,以便更好地应用于科学研究,在光学自准直原理的基础上,针对大口径细光束的自准直系统进行研究,并对其误差源做了深入分析。对入射光束发散度引入的误差、CCD离焦误差、光学元件姿态引入的误差、反射镜平面度误差、准直系统瞄准误差以及原理误差这六种主要的误差源做了定量分析,同时对外界环境条件引入的误差进行了定性分析。通过对上述误差的定量与定性分析,可以直观地观察各误差源对系统精度产生的影响,为后续大口径细光束自准直系统的设计提供了重要的理论支持。 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/31322] |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
作者单位 | 1.中国科学院大学 2.中国科学院上海应用物理研究所 3.重庆理工大学 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵玉平,彭川黔,王劼. 大口径细光束自准直测量系统的误差源分析[J]. 半导体光电,2018,39(03):414-419. |
APA | 赵玉平,彭川黔,&王劼.(2018).大口径细光束自准直测量系统的误差源分析.半导体光电,39(03),414-419. |
MLA | 赵玉平,et al."大口径细光束自准直测量系统的误差源分析".半导体光电 39.03(2018):414-419. |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
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