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大口径细光束自准直测量系统的误差源分析

文献类型:期刊论文

作者赵玉平; 彭川黔; 王劼
刊名半导体光电
出版日期2018-06-11
卷号39期号:03页码:414-419
关键词自准直系统 误差源分析 细光束 发散度 精度
文献子类期刊论文
英文摘要为了满足自准直系统的高精度要求,同时扩展其适用范围,以便更好地应用于科学研究,在光学自准直原理的基础上,针对大口径细光束的自准直系统进行研究,并对其误差源做了深入分析。对入射光束发散度引入的误差、CCD离焦误差、光学元件姿态引入的误差、反射镜平面度误差、准直系统瞄准误差以及原理误差这六种主要的误差源做了定量分析,同时对外界环境条件引入的误差进行了定性分析。通过对上述误差的定量与定性分析,可以直观地观察各误差源对系统精度产生的影响,为后续大口径细光束自准直系统的设计提供了重要的理论支持。
语种中文
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/31322]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年
作者单位1.中国科学院大学
2.中国科学院上海应用物理研究所
3.重庆理工大学
推荐引用方式
GB/T 7714
赵玉平,彭川黔,王劼. 大口径细光束自准直测量系统的误差源分析[J]. 半导体光电,2018,39(03):414-419.
APA 赵玉平,彭川黔,&王劼.(2018).大口径细光束自准直测量系统的误差源分析.半导体光电,39(03),414-419.
MLA 赵玉平,et al."大口径细光束自准直测量系统的误差源分析".半导体光电 39.03(2018):414-419.

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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