一类上界型拟合优度检验统计量的精确分布
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张军舰1; 李国英2; 赵志源2 |
| 刊名 | 应用概率统计
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| 出版日期 | 2009 |
| 卷号 | 000期号:004页码:421 |
| ISSN号 | 1001-4268 |
| 英文摘要 | 对于简单假设的拟合优度检验，Zhang（2002）构造出一类上界型检验．取不同的参数λ和不同的权函数q（t），这类检验包含了Kolmogorov-Smirov检验，Berk and Jones（1979）检验等已有的上界型检验．文献中仅对极少数λ和q（t）所对应的检验给出了零假设下的精确分布．然而，针对不同的问题，“好”的检验是不同的，因此有必要对任意给定的λ和q（t）情况，讨论该类检验．本文对任意给定的λ和q（t）≡1情况，导出了相应上界型检验统计量在零假设下的精确分布．当样本容量n较大时，精确分布的计算时间较长，本文还通过模拟比较得到了在不同样本量下，应采用的计算方法．最后，给出一个实际例子对前述方法加以简单说明． |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.amss.ac.cn/handle/2S8OKBNM/42089]  |
| 专题 | 中国科学院数学与系统科学研究院 |
| 作者单位 | 1.广西师范大学 2.中国科学院数学与系统科学研究院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张军舰,李国英,赵志源. 一类上界型拟合优度检验统计量的精确分布[J]. 应用概率统计,2009,000(004):421. |
| APA | 张军舰,李国英,&赵志源.(2009).一类上界型拟合优度检验统计量的精确分布.应用概率统计,000(004),421. |
| MLA | 张军舰,et al."一类上界型拟合优度检验统计量的精确分布".应用概率统计 000.004(2009):421. |
入库方式： OAI收割
来源：数学与系统科学研究院
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