Surface morphology and defects of polycrystalline silicon thin film
文献类型：会议论文
| 作者 | Hu YF(胡芸菲) ; Guo ZQ(郭志球) ; Liu XY(柳锡运) |
| 出版日期 | 2010-08-06 |
| 会议名称 | 15th international photovoltaic science and engineering conference |
| 会议日期 | 2005 |
| 会议地点 | - |
| 源URL | [http://ir.giec.ac.cn/handle/344007/3189]  |
| 专题 | 中国科学院广州能源研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Hu YF,Guo ZQ,Liu XY. Surface morphology and defects of polycrystalline silicon thin film[C]. 见:15th international photovoltaic science and engineering conference. -. 2005. |
入库方式： OAI收割
来源：广州能源研究所
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