多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴
文献类型：期刊论文
| 作者 | 严子心; 曲景奎; 余志辉 ; 宋静; 魏广叶
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| 刊名 | 分析化学
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| 出版日期 | 2019 |
| 卷号 | 047期号:003页码:423 |
| ISSN号 | 0253-3820 |
| 英文摘要 | 采用基体匹配、标准加入和多谱线拟合(MSF)等校正方法进行干扰消除,通过对3种校正方法的比较,建立了MSF-电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)测定高纯镍中痕量钴的分析方法。确定了最优仪器参数为:射频功率1350W,雾化器流速0.5L/min,观测距离15mm,蠕动泵泵速1.0mL/min。应用基体匹配、标准加入和MSF3种校正方法分别测定了加标高纯镍溶液,当钴加标浓度为0.10和0.20mg/L、镍浓度为5g/L时,3种方法均得到较高的回收率(95.0%~102.0%),线性相关系数均大于0.9996,RSD在2.1%~4.6%之间,其中MSF法的线性范围最宽(0.02~0.5mg/L),检出限最低(0.002mg/L);当钴加标浓度分别为0.02和0.06mg/L、镍浓度为15g/L时,只有MSF法能够得到准确的结果,线性相关系数为0.9999,线性范围为0.02~0.10mg/L,检出限为0.002mg/L,回收率为95.0%~105.0%,RSD在3.9%~4.6%之间。采用MSF法测试实际样品的分析结果为0.000154%,与辉光放电质谱(GD-MS)法的结果(0.000149%)基本一致,进一步验证了方法的准确性和精密性。MSF法不仅抗干扰能力强、操作简便、经济实用,且精密度高、检出限低,测量下限(0.0001%)和范围均优于国标原子吸收光谱法(0.001%),为高纯样品中痕量杂质元素的测定提供了重要的方法学手段。 |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/35387]  |
| 专题 | 中国科学院过程工程研究所 |
| 作者单位 | 中国科学院过程工程研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 严子心,曲景奎,余志辉,等. 多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴[J]. 分析化学,2019,047(003):423. |
| APA | 严子心,曲景奎,余志辉,宋静,&魏广叶.(2019).多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴.分析化学,047(003),423. |
| MLA | 严子心,et al."多谱线拟合电感耦合等离子体原子发射光谱法测定高纯镍中痕量钴".分析化学 047.003(2019):423. |
入库方式： OAI收割
来源：过程工程研究所
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