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半導体レーザの製造方法

文献类型:专利

作者櫛部 光弘; 船水 将久; 高岡 圭児; 阪口 眞弓
发表日期1993-07-30
专利号JP1993190970A
著作权人TOSHIBA CORP
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザの製造方法
英文摘要【目的】 コンタクト抵抗の低減により素子抵抗を低減させることができ、素子特性及び信頼性の向上をはかり得る半導体レーザの製造方法を提供すること。 【構成】 ダブルヘテロ構造を有する半導体レーザの製造方法において、InP基板30上にp型不純物の拡散を抑制するためのn型InP拡散抑制層31を形成したのち、拡散抑制層31上に該層31よりもキャリア濃度の低いp型のInGaAs基板側コンタクト層32を形成し、次いで基板側コンタクト層32上にp型InPクラッド層33,MQWの活性層34,InGaAsO光ガイド層35及びn型InPクラッド層36からなるダブルヘテロ構造部を形成し、次いでダブルヘテロ構造部上にn型InGaAsコンタクト層37を形成し、次いで基板30及び拡散抑制層31を除去した後、基板側コンタクト層32の裏面にp側電極を形成し、さらにコンタクト層37上にn側電極を形成することを特徴とする。
公开日期1993-07-30
申请日期1992-01-09
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/83784]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位TOSHIBA CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
櫛部 光弘,船水 将久,高岡 圭児,等. 半導体レーザの製造方法. JP1993190970A. 1993-07-30.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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