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半導体レーザ

文献类型:专利

作者奥西 久義; 内田 智士
发表日期2008-02-21
专利号JP2008042082A
著作权人ROHM CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザ
英文摘要【課題】FFPを小さくすることができながら、光出力-動作電流特性のキンクの発生を抑制することができる、リッジ導波路型の半導体レーザを提供する。 【解決手段】半導体レーザ1は、n型GaAs基板2上に、n型AlGaAsクラッド層32、MQW活性層33、p型InGaAlP下クラッド層34、p型InGaPエッチングストップ層35およびp型InGaAlP上クラッド層36の積層構造を有している。p型InGaAlP上クラッド層36は、p型InGaPエッチングストップ層35よりも幅狭な断面台形状に形成されている。n型GaAs基板2上は、p型GaAsコンタクト層37の上面を除いて、絶縁膜6によって覆われている。p型InGaAlP下クラッド層34は、p型不純物のドーピング濃度の相対的に高い高濃度層41と、その高濃度層41上に形成され、p型不純物のドーピング濃度の相対的に低い低濃度層42とを備えている。 【選択図】図1
公开日期2008-02-21
申请日期2006-08-09
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/84144]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位ROHM CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
奥西 久義,内田 智士. 半導体レーザ. JP2008042082A. 2008-02-21.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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