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窒化ガリウム系化合物半導体素子

文献类型:专利

作者野崎 千晴; ジョン·レニー
发表日期2003-08-01
专利号JP3457516B2
著作权人株式会社東芝
国家日本
文献子类授权发明
其他题名窒化ガリウム系化合物半導体素子
英文摘要【課題】 p側電極とp側コンタクト層との間に生じるコンタクト抵抗を低くすることができ、低しきい値電流,低動作電圧で劣化を起こさず、信頼性の向上をはかる。 【解決手段】 サファイア基板1上にそれぞれ単結晶の、n-GaNコンタクト層3,n-AlGaNクラッド層4,GaN導波層5,MQW活性層6,GaN導波層6,p-AlGaNクラッド層8,p-GaNコンタクト層9を成長形成し、コンタクト層9上の一部にPt/Auからなるp側電極11,12を形成し、コンタクト層9からクラッド層4までを一部エッチングして露出したコンタクト層3上にTi/Auからなるn側電極13を形成したGaN系半導体レーザにおいて、コンタクト層9とp側電極11,12との間に、厚さが10nm以下でキャリア濃度が1×1017cm-3以上の多結晶のGaN層10を挿入した。
公开日期2003-10-20
申请日期1997-08-27
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/84184]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位株式会社東芝
推荐引用方式
GB/T 7714
野崎 千晴,ジョン·レニー. 窒化ガリウム系化合物半導体素子. JP3457516B2. 2003-08-01.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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