半導体レーザ素子の製造方法
文献类型:专利
作者 | 築地 直樹; 岩瀬 正幸 |
发表日期 | 1995-03-03 |
专利号 | JP1995058410A |
著作权人 | 古河電気工業株式会社 |
国家 | 日本 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 半導体レーザ素子の製造方法 |
英文摘要 | 【目的】 劣化を抑制することができる半導体レーザ素子の製造方法を提供する。 【構成】 化合物半導体基板上にInと、少なくともAsまたはPを含む5族元素からなる化合物半導体エピタキシャル層1を形成し、該エピタキシャル層1表面に接して、活性層3直上部の少なくとも一部の領域に、Auを含む金属膜2を形成し、該金属膜2と前記エピタキシャル層1との合金化を行う工程を有する半導体レーザ素子の製造方法において、活性層3直上部の金属膜2端部を覆うように保護膜5を形成し、この状態で金属膜2と前記エピタキシャル層1との合金化を行う。 |
公开日期 | 1995-03-03 |
申请日期 | 1993-08-16 |
状态 | 失效 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85294] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 古河電気工業株式会社 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 築地 直樹,岩瀬 正幸. 半導体レーザ素子の製造方法. JP1995058410A. 1995-03-03. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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