激光二极管自动测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 陈汉汛; 吉孔武; 刘建国; 徐达伟 |
| 发表日期 | 2003-07-23 |
| 专利号 | CN1431520A |
| 著作权人 | 武汉理工大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 激光二极管自动测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明涉及激光二极管自动测试系统，它包括：计算机、接收计算机指令并向被测激光二极管加载电流的电流源、用于测量被测激光二极管的发光功率并输出信号的光探测器、A/D变换器、D/A变换器。本发明系统可以直接对从晶元中解理出来的线性排列的激光二极管进行测试，操作员除了在测试开始时需要安装与定位激光二极管，以及在测试结束后取下激光二极管外，其他测试过程全部自动进行。本发明系统的测试精度高，测试速度快，并可以适用于多种LD型号和LD生产线多种工位测试需求的优点，使用本发明系统可极大地提高LD的生产率和产品质量。 |
| 公开日期 | 2003-07-23 |
| 申请日期 | 2003-01-14 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85501]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 武汉理工大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈汉汛,吉孔武,刘建国,等. 激光二极管自动测试系统. CN1431520A. 2003-07-23. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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