半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 曹军胜; 高志坚; 尹红贺 |
| 发表日期 | 2016-07-20 |
| 专利号 | CN105784330A |
| 著作权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法 |
| 英文摘要 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法，属于半导体激光器的检测技术领域，为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性，将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上；线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接；被测巴条安装于探针台上，程控电流源的输出端连接探针台的电极，电极与被测巴条连接；微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条，被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD，微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值，扫描电流每增大一步，微控制器系统就读取一次线阵CCD，直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止；微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。 |
| 公开日期 | 2016-07-20 |
| 申请日期 | 2016-02-29 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85510]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹军胜,高志坚,尹红贺. 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法. CN105784330A. 2016-07-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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