一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法
文献类型：专利
| 作者 | 孙吉勇; 梁凤飞; 沈玮栋; 周大农; 苏玉芳 |
| 发表日期 | 2015-06-03 |
| 专利号 | CN104677789A |
| 著作权人 | 江苏苏净集团有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种基于激光相干原理的纳米颗粒计数检测方法及检测装置，基于该方法的传感器结构包括：半导体激光器，入射光纤，样品池，出射光纤、光电探测器和信号处理电路。位于样品池检测通道两侧的入射光纤端面和出射光纤端面相互平行，形成一个干涉腔。半导体激光器发出的相干光通过干涉腔时，会发生多光束干涉。当待测液体或气体介质中的微小颗粒通过干涉腔时，会改变干涉腔的有效光程，从而使得透射光的干涉光强发生变化。利用光电探测器求出透射光强的变化，可以求出通过干涉腔的颗粒大小。 |
| 公开日期 | 2015-06-03 |
| 申请日期 | 2015-03-05 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/85540]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 江苏苏净集团有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙吉勇,梁凤飞,沈玮栋,等. 一种纳米颗粒计数检测装置及检测方法. CN104677789A. 2015-06-03. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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