激光器寿命测试系统
文献类型：专利
| 作者 | 路国光; 谢少锋; 郝明明; 周振威; 肖庆中; 赖灿雄; 尧彬; 黄云 |
| 发表日期 | 2016-06-08 |
| 专利号 | CN105651489A |
| 著作权人 | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 激光器寿命测试系统 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种激光器寿命测试系统，所述系统包括电源驱动模块、样品池、温度控制模块、参数测试模块、故障诊断与健康管理模块和计算机控制模块，所述样品池用于承载激光器；电源驱动模块分别与样品池和故障诊断与健康管理模块连接，样品池设置在温度控制模块上，样品池和温度控制模块分别与故障诊断与健康管理模块连接，参数测试模块用于对装载在所述样品池中的激光器进行监测，电源驱动模块、温度控制模块、参数测试模块和故障诊断与健康管理模块分别与计算机控制模块连接。本发明为半导体激光器寿命评价、老化筛选提供了设备保障；具备故障诊断与健康管理功能，避免因寿命试验装置关键部件故障导致寿命试验中断或试验装置损伤。 |
| 公开日期 | 2016-06-08 |
| 申请日期 | 2016-03-01 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86000]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 路国光,谢少锋,郝明明,等. 激光器寿命测试系统. CN105651489A. 2016-06-08. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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