一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统及方法
文献类型：专利
| 作者 | 张扣文; 鲁丁; 李强; 余梦璐 |
| 发表日期 | 2016-10-05 |
| 专利号 | CN105987807A |
| 著作权人 | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统及方法 |
| 英文摘要 | 一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统，包括：一镜头装置，用于增大一VCSEL阵列成像距离；一图像采集装置，用于采集所述VCSEL阵列成像；和一分析判断装置，用于分析判断所述图像采集装置采集的所述VCSEL阵列成像的信息，判断所述VCSEL阵列是否存在坏点。一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测方法，包括如下步骤：(A)提供一镜头装置，设置于一VCSEL阵列的发光单元前方位置，使得所述VCSEL阵列的成像距离增大；(B)提供一图像采集装置，采集所述VCSEL阵列通过所述镜头装置的成像；和(C)提供一分析判断装置，分析所述图像采集装置采集的所述VCSEL阵列成像信息，判断所述VCSEL阵列是否存在坏点。 |
| 公开日期 | 2016-10-05 |
| 申请日期 | 2015-02-15 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86035]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 宁波舜宇光电信息有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张扣文,鲁丁,李强,等. 一种垂直腔面发射激光器阵列的坏点检测系统及方法. CN105987807A. 2016-10-05. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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