一种半导体激光器远场测试方法及装置
文献类型:专利
作者 | 刘兴胜![]() |
发表日期 | 2010-12-29 |
专利号 | CN101929889A |
著作权人 | 西安炬光科技有限公司 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 一种半导体激光器远场测试方法及装置 |
英文摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器远场测试方法及装置,该方法以激光器发光点为圆心,以一固定臂长为半径,使探测器在激光器发光点的发光区域做180度旋转运动;或者探测器不动,以探测器为圆心以一固定臂长为半径使激光器分别在水平面和垂直面上做180度旋转运动。本发明的这种测试方法除了能够得到整个激光器远场实时曲线,还能直观的描述激光器的远场特性,例如计算FWHM,1/e2能量范围,95%能量等远场描述参数。另外该方法由于采用了直接测量的方式,具有较高的精度与可靠性。并且本发明涉及的实现该方法的装置均具有结构简单,使用方便快捷的优点。 |
公开日期 | 2010-12-29 |
申请日期 | 2010-05-17 |
状态 | 失效 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86333] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 西安炬光科技有限公司 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘兴胜,代华斌,郑艳芳,等. 一种半导体激光器远场测试方法及装置. CN101929889A. 2010-12-29. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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