光電子回路基板及び光電子回路基板の検査方法
文献类型：专利
| 作者 | 佐藤 康郊 |
| 发表日期 | 2009-01-15 |
| 专利号 | JP2009008720A |
| 著作权人 | 富士ゼロックス株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光電子回路基板及び光電子回路基板の検査方法 |
| 英文摘要 | 【課題】光モジュールを実装した状態で光素子を非破壊で検査することができる光電子回路基板及び光電子回路基板の検査方法を提供する。 【解決手段】この光電子回路基板1は、内部に光導波路10Cを有する基板10と、基板10上に設けられ、ダミー用の発光素子と光導波路10Cの一方の端部に光結合する光通信用の発光素子とを含むLDアレイ(発光素子アレイ)200と、基板10にダミー用の発光素子に対応して形成された発光用の貫通孔60とを備える。貫通孔60に光ファイバ400を挿入し、LDアレイ200のダミー用の発光素子を駆動させて光信号を発生させ、その光信号を光ファイバ400を介して受信することにより、LDアレイ200及びLDアレイ200を駆動するドライバーICが正常かどうかを検査することができる。 【選択図】図5 |
| 公开日期 | 2009-01-15 |
| 申请日期 | 2007-06-26 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86775]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 富士ゼロックス株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 佐藤 康郊. 光電子回路基板及び光電子回路基板の検査方法. JP2009008720A. 2009-01-15. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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