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干渉露光に関わる半導体装置の製造方法

文献类型:专利

作者松田 学
发表日期1993-04-02
专利号JP1993080527A
著作权人富士通株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名干渉露光に関わる半導体装置の製造方法
英文摘要【目的】 DFBレーザの回折格子であるコルゲーション構造を、位相が正確に半周期ずれたものとして形成する方法を提供すること。 【構成】 一回の干渉露光処理によりコルゲーションの全長にわたってレジストの格子パターンを形成しておき、コルゲーションの半分はこのレジストパターンをマスクとする選択エッチングで形成し、他の部分では、このレジストパターンを用いて自己整合的に相補的マスクパターンを形成した上で、この相補的マスクパターンを用いて選択エッチングを施し、コルゲーションの残り半分を形成する。 【効果】 コルゲーションの周期性の基礎となるパターンが、その全長にわたって一度に形成されるため、反転部分の位相のずれが正確に半周期となる。
公开日期1993-04-02
申请日期1991-09-20
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86814]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位富士通株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
松田 学. 干渉露光に関わる半導体装置の製造方法. JP1993080527A. 1993-04-02.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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