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半導体レーザおよびその製造方法

文献类型:专利

作者宮永 良子; 上山 智; 吉井 重雄; 佐々井 洋一
发表日期1999-07-09
专利号JP1999186646A
著作权人MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザおよびその製造方法
英文摘要【課題】 II-VI族半導体レーザに用いられている絶縁層材料の熱伝導性を高め、リッジストライプの場合ではII-VI族半導体との屈折率差を大きくし、低閾値電流動作、高信頼性の半導体レーザを得ることを目的とする。 【解決手段】 単結晶基板111上にn型クラッド層114、活性層116、p型クラッド層118、及びp型コンタクト層119が順次形成された半導体レーザにおいて、熱伝導性の高いストライプ状の開口を有する多結晶SiまたはGeを含有する絶縁膜122を形成する。そして、好ましくは、SiまたはGeを含有する層の下にZnS、ZnSe、CdSe、ZnTeのいずれかを密着性を高めるために形成する。
公开日期1999-07-09
申请日期1997-12-17
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/86952]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
宮永 良子,上山 智,吉井 重雄,等. 半導体レーザおよびその製造方法. JP1999186646A. 1999-07-09.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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