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半導体素子、半導体素子の製造方法及び半導体基板の製造方法

文献类型:专利

作者辻村 歩; 長谷川 義晃; 石橋 明彦; 木戸口 勲; 伴 雄三郎
发表日期2000-01-21
专利号JP2000022283A
著作权人MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体素子、半導体素子の製造方法及び半導体基板の製造方法
英文摘要【課題】 Nを含むIII-V族半導体素子の熱応力に起因する反りを抑制し、素子層における結晶欠陥やクラックの発生を防止できる半導体素子を提供することを目的とする。 【解決手段】 Al2O3基板11の一方の主面上に、GaNバッファ層12、n型GaNコンタクト層13、n型AlGaNクラッド層14、GaN光ガイド層15、GaInN量子井戸活性層16、p型AlGaNクラッド層17、n型GaN電流ブロック層18、p型GaNコンタクト層19等のIII-V族化合物半導体層を形成する一方で、基板11の他方の主面上にZnO層112を形成する。上記のIII-V族化合物半導体層及びZnO層112はともに基板よりも熱膨張係数が小さいため、半導体層形成後の冷却時に反りが発生するのを防止できる。
公开日期2000-01-21
申请日期1998-07-06
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/87336]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
辻村 歩,長谷川 義晃,石橋 明彦,等. 半導体素子、半導体素子の製造方法及び半導体基板の製造方法. JP2000022283A. 2000-01-21.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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