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半導体装置及びその製造方法

文献类型:专利

作者藤田 恭久; 藤井 智; 寺田 敏行; 鈴木 哲哉
发表日期1995-10-13
专利号JP1995263816A
著作权人新日本製鐵株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体装置及びその製造方法
英文摘要【目的】 II-VI族化合物半導体エピタキシャル結晶からなるp型層と電極とのオーム性接触を可能とする半導体装置及びその製造方法を提供する。 【構成】 II-VI族化合物半導体エピタキシャル結晶からなるp型層と電極層との間に、窒素を1×1016cm-3乃至1×1019cm-3含み、かつ炭素を1×1015cm-3乃至1×1019cm-3含む高濃度にドープしたp型オーミック層を介在させることで、この範囲で結晶内に含まれる炭素によりトンネル電流が多く見込めるようになることなどから両者間にオーム性接触が得られる。また、p型オーミック層をも上記p型層と同様の結晶で形成することで、もとのp型層とp型オーミック層との間で格子整合がとれるため結晶欠陥が発生することもない。以上のことから、電気的特性が良く信頼性の高い半導体装置が歩留まり良く製造できる。
公开日期1995-10-13
申请日期1994-03-25
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/87337]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位新日本製鐵株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
藤田 恭久,藤井 智,寺田 敏行,等. 半導体装置及びその製造方法. JP1995263816A. 1995-10-13.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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