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半導体レーザ素子の製造方法

文献类型:专利

作者坪田 孝志; 鹿島 保昌
发表日期1993-09-28
专利号JP1993251810A
著作权人OKI ELECTRIC IND CO LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザ素子の製造方法
英文摘要(修正有) 【目的】 溝を有するその上部でのホトレジストの段切れを防止し、電極と半導体層が接触しない半導体レーザ素子を得る。 【構成】 P型InPクラッド層28、InGaAsP活性層29、N型InPクラッド層30、N型InGaAsPコンタクト層31を順次成長させ、その上にホトレジスト32をコーティングした後、ホトリソ工程により、ホトレジスト32にストライプ状の窓33を形成し、エッチング液によりP型InPバッファ層22まで達する溝34を形成し、ホトレジスト32を除去した後、SiO2 膜35を膜付し、その後、ベークした後にすぐにホトレジスト36をコーティングし、ホトリソ工程により、InGaAsP活性層29上部のホトレジスト32にストライプ状の窓を形成し、エッチング液によりSiO2 膜35をエッチングし、ホトレジスト32を除去した後、P側及びN側に電極38、39を形成する。
公开日期1993-09-28
申请日期1991-11-05
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/87987]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位OKI ELECTRIC IND CO LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
坪田 孝志,鹿島 保昌. 半導体レーザ素子の製造方法. JP1993251810A. 1993-09-28.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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