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歪量子井戸半導体レーザの気相成長方法

文献类型:专利

作者深谷 一夫; 石川 信
发表日期1995-02-14
专利号JP1995045909A
著作权人日本電気株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名歪量子井戸半導体レーザの気相成長方法
英文摘要【目的】 高歩留まりで安定動作する信頼性の高いnGaAs歪量子井戸半導体レーザを製造する。 【構成】 常圧MOVPE装置を用いてSiドープGaAs基板7上にSiドープAl0 . 4 Ga0 . 6 Asクラッド層8を成長温度760℃で気相エピタキシャル成長させる。次にAl0 . 2 Ga0 . 8 As光ガイド層9の成長中に成長温度を降下させ、成長温度610℃·アルシン分圧0.3Torrのもとで2重歪量子井戸活性層構造10(GaAsバリア層/In0 . 2 4 Ga0 . 7 6 As歪量子井戸/GaAsバリア層/In0 . 2 4 Ga0 . 7 6As歪量井戸/GaAsバリア層)を成長する。次に、成長温度を610℃に保ったままAl0 . 2 Ga0 . 8 As光ガイド層11、MgドープAl0 . 4 Ga0 . 6 Asクラッド層12、MgドープGaAsキャップ層13を順次成長する。
公开日期1995-02-14
申请日期1993-07-29
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/88534]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位日本電気株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
深谷 一夫,石川 信. 歪量子井戸半導体レーザの気相成長方法. JP1995045909A. 1995-02-14.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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