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半導体レーザ装置

文献类型:专利

作者廣中 美佐夫; 太田 洋一郎
发表日期1995-06-16
专利号JP1995154031A
著作权人三菱電機株式会社
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体レーザ装置
英文摘要【目的】 高温動作電流を小さくし、高信頼性を有し、低消費電力が得られる半導体レーザ装置を提供する。 【構成】 活性層3上に配置される上クラッド層を、1×1018〜1×1020cm-3の高いキャリア濃度、及び0.01〜0.10μmの薄い厚さtA をもつ第1の上クラッド層4と、1×1015〜1×1017cm-3の低いキャリア濃度と、0.3μmの厚みtB を持つ第2の上クラッド層20との2層から構成した。 【効果】 活性層3近傍の第1上クラッド層4のキャリア濃度が高いため、高温時の少数キャリアのオーバーフローが小さく、かつ該層4の層厚が薄いため、リーク電流も小さい。また、トータルの上クラッド層厚(tA +tB )が厚いため、吸収損失が小さく、高温動作電流値を小さくできる。
公开日期1995-06-16
申请日期1993-07-06
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/88551]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位三菱電機株式会社
推荐引用方式
GB/T 7714
廣中 美佐夫,太田 洋一郎. 半導体レーザ装置. JP1995154031A. 1995-06-16.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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