半導体レーザの選別方法
文献类型：专利
| 作者 | 吉田 伊知朗; 勝山 造; 橋本 順一 |
| 发表日期 | 1995-03-20 |
| 专利号 | JP1995079051A |
| 著作权人 | 住友電気工業株式会社 |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 半導体レーザの選別方法 |
| 英文摘要 | 【目的】 使用中にいわゆる突然死する可能性のある半導体レーザを適確に予め除去できる半導体レーザの選別方法を提供すること。 【構成】 この半導体レーザの選別方法は、半導体レーザにその最大定格電流の50%以上150%以下の第1の電流を50時間以上通電する第1の過程と、第1の過程の後、第1の電流より大きくかつ最大定格電流の120%以上250%以下の第2の電流を0.1秒以上通電する第2の過程と、第2の過程の後の光出力特性を測定し、その測定結果に応じて不良品を選別し排除する第3の過程とを備えている。 |
| 公开日期 | 1995-03-20 |
| 申请日期 | 1994-07-01 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/88711]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 住友電気工業株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吉田 伊知朗,勝山 造,橋本 順一. 半導体レーザの選別方法. JP1995079051A. 1995-03-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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