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半導体光素子の製造方法およびそれを用いた半導体光素子ならびにそれを用いた光応用システム

文献类型:专利

作者篠田 和典; 宮崎 勝; 魚見 和久
发表日期1998-08-21
专利号JP1998223990A
著作权人HITACHI LTD
国家日本
文献子类发明申请
其他题名半導体光素子の製造方法およびそれを用いた半導体光素子ならびにそれを用いた光応用システム
英文摘要【課題】 半導体光素子の製造に関し、特に低損傷で且つ加工寸法のウェハ面内均一性に優れた半導体導波路構造の製造方法を提供することである。 【解決手段】 半導体基板に段差を形成する半導体光素子の製造方法において、該段差をイオン照射を伴うドライエッチングによる第1工程とそれに引き続くイオン照射を伴わないドライエッチングによる第2工程とで形成する。 【効果】 これにより、半導体基板の段差を低損傷且つ加工寸法のウェハ面内均一性を損なうことなく形成できるため、素子寿命の信頼性が高い半導体光素子を容易に実現できる。
公开日期1998-08-21
申请日期1997-02-12
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/88744]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位HITACHI LTD
推荐引用方式
GB/T 7714
篠田 和典,宮崎 勝,魚見 和久. 半導体光素子の製造方法およびそれを用いた半導体光素子ならびにそれを用いた光応用システム. JP1998223990A. 1998-08-21.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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