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窒化物系III-V族化合物半導体装置とその製造方法

文献类型:专利

作者船戸 健次; 簗嶋 克典; 橋本 茂樹
发表日期2000-03-21
专利号JP2000082671A
著作权人SONY CORP
国家日本
文献子类发明申请
其他题名窒化物系III-V族化合物半導体装置とその製造方法
英文摘要【課題】 窒化系物III-V族化合物半導体層が成膜される半導体装置において、結晶性にすぐれた窒化系物III-V族化合物半導体層を得ることができるようにすし、電気的特性にすぐれ、長寿命化を図ることができ、更に設計の自由度を高めることのできる半導体装置とその製造方法を提供する。 【解決手段】 サファイア基板2上に、GaN層を含むエピタキシャル成長半導体層4が形成されてなる窒化物系III-V族化合物半導体装置であって、そのGaN層の格子定数aが、少なくとも0.3183nm以下となる構成として、結晶性にすぐれた窒化物系III-V族化合物半導体層を得ることができるようにする。
公开日期2000-03-21
申请日期1998-09-02
状态失效
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/89598]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位SONY CORP
推荐引用方式
GB/T 7714
船戸 健次,簗嶋 克典,橋本 茂樹. 窒化物系III-V族化合物半導体装置とその製造方法. JP2000082671A. 2000-03-21.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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