衍射光栅、受光元件及光学头以及光记录重放装置
文献类型：专利
| 作者 | 涩谷义一; 佐藤吉德 |
| 发表日期 | 2006-08-09 |
| 专利号 | CN1815273A |
| 著作权人 | TDK株式会社 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 衍射光栅、受光元件及光学头以及光记录重放装置 |
| 英文摘要 | 本发明涉及衍射光栅、受光元件及采用它们的光学头及光记录重放装置，目的是提供可检出高品质信号的衍射光栅、受光元件及采用它们的光学头及光记录重放装置。衍射光栅13具有使2波长半导体激光器射出的第1激光25或第2激光25’衍射分离并生成主光束27及±1次副光束29a、29b或主光束27’及±1次副光束29a’、29b’且仅在光射出面侧形成的衍射区域21。衍射区域21形成的凹部23b的深度d形成为220nm。凹凸部23的1节距的长度p形成为22μm，凸部23a的宽度w形成为17.6μm。凸部23a的宽度w对凹凸部23的1节距的长度p的比率为0.8。 |
| 公开日期 | 2006-08-09 |
| 申请日期 | 2006-02-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91395]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | TDK株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 涩谷义一,佐藤吉德. 衍射光栅、受光元件及光学头以及光记录重放装置. CN1815273A. 2006-08-09. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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