基于正交双偏振光的滚转角光电检测方法及装置
文献类型：专利
| 作者 | 章恩耀; 陈蕾; 孙利群; 田芊 |
| 发表日期 | 2003-02-12 |
| 专利号 | CN1396435A |
| 著作权人 | 清华大学 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 基于正交双偏振光的滚转角光电检测方法及装置 |
| 英文摘要 | 基于正交双偏振光的滚转角光电检测方法及装置，属于光电检测技术领域。本发明利用相位差180°的两列方波，分别调制光路中的两个半导体激光器或者分别调制光路中两个偏振方向正交的液晶光阀，产生两束分时交替的正交偏振光，使发射端输出交替工作的正交双偏振平行光；经过检偏器后产生光强差值，通过检测该差值得到滚转角的值。本发明与现有技术相比，光路结构简单，无较多复杂反馈电路，在保证测量精度的前提下，有效降低了生产成本；同时实现了x－y准直度的测量控制，节省了测量的时间，实现了并行实时测量，为进一步提高测量精度提供了条件。可广泛用于大型工件安装时的滚转角和准直度测量以及运动物的直线度和滚转角的自动跟踪系统。 |
| 公开日期 | 2003-02-12 |
| 申请日期 | 2002-07-05 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91603]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 清华大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 章恩耀,陈蕾,孙利群,等. 基于正交双偏振光的滚转角光电检测方法及装置. CN1396435A. 2003-02-12. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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