光学器件的试验装置
文献类型：专利
| 作者 | 早水勲; 西川透; 立柳昌哉; 田中彰一 |
| 发表日期 | 2006-09-20 |
| 专利号 | CN1835201A |
| 著作权人 | 松下电器产业株式会社 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光学器件的试验装置 |
| 英文摘要 | 本发明揭示一种光学器件的试验装置。即使是外部连接端子接触面的位置与半导体激光元件的发光出射方向之间的位置关系不同的形态的光学器件，也可以兼用试验装置进行试验。 |
| 公开日期 | 2006-09-20 |
| 申请日期 | 2006-03-15 |
| 状态 | 授权 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91698]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 松下电器产业株式会社 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 早水勲,西川透,立柳昌哉,等. 光学器件的试验装置. CN1835201A. 2006-09-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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