光纤干涉仪多参数的综合测量系统
文献类型：专利
| 作者 | 徐团伟; 方高升; 李芳; 刘育梁 |
| 发表日期 | 2014-04-30 |
| 专利号 | CN103759924A |
| 著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 光纤干涉仪多参数的综合测量系统 |
| 英文摘要 | 一种光纤干涉仪多参数的综合测量系统，包括：一窄线宽可调谐半导体激光器，其用于提供传输用的信号光；一光隔离器，其输入端与窄线宽可调谐半导体激光器的输出端连接；一干涉仪，其端口1与光隔离器的输出端连接，用于减小瑞利散射光对激光器的影响，以保护激光器长时间稳定的工作；一载波电路，其输出端与干涉仪的端口3连接，用于提供干涉仪中PZT调制信号；一光电探测器，其输入端与干涉仪的端口2连接；一数据采集卡，其输入端与光电探测器的输出端连接，用于将接收到的光信号转换为电信号；一数据处理机，其输入端与数据采集卡的输出端连接，用于将数据采集卡采集到的数字信号进行处理，以可见度、调制幅度和初始相位差作为待定参数，采用非线性最小平方和拟合给出上述参数值。 |
| 公开日期 | 2014-04-30 |
| 申请日期 | 2014-01-23 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/91927]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐团伟,方高升,李芳,等. 光纤干涉仪多参数的综合测量系统. CN103759924A. 2014-04-30. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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