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SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器及其制备方法

文献类型:专利

作者舒斌; 高玉龙; 张利锋; 胡辉勇; 王斌; 王利明; 韩本光; 张鹤鸣
发表日期2019-03-08
专利号CN109449757A
著作权人西安电子科技大学
国家中国
文献子类发明申请
其他题名SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器及其制备方法
英文摘要本发明公开了一种SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器及其制备方法。方法包括:在Si衬底的表面形成p型Si1‑xGex层;在p型Si1‑xGex层的表面形成SiN层;将SiN层的中间区域刻蚀掉,使两端的SiN层和底部的p型Si1‑xGex层形成一凹槽;在凹槽内形成n型Ge层,且n型Ge层的厚度与SiN层的厚度相同;在SiN层表面和n型Ge层的表面形成n型Si1‑xGex层;在n型Si1‑xGex层的表面形成Si帽层;在Si帽层上形成电极。本发明的SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器又具有较高的光电转换效率和较低的阈值电流密度,光稳定性好;其制备方法既能够兼容CMOS工艺,加工简单、方便,为实现片上光源提供一个具体的结构和实施方案。
公开日期2019-03-08
申请日期2018-09-17
状态授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92341]  
专题半导体激光器专利数据库
作者单位西安电子科技大学
推荐引用方式
GB/T 7714
舒斌,高玉龙,张利锋,等. SiGe/Ge/SiGe双异质结激光器及其制备方法. CN109449757A. 2019-03-08.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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