発光素子の光出力を測定するシステム、及びそれに使用される回路
文献类型：专利
| 作者 | ダブラヴコ·アイ·バビック |
| 发表日期 | 2000-04-21 |
| 专利号 | JP2000114659A |
| 著作权人 | HEWLETT PACKARD CO |
| 国家 | 日本 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 発光素子の光出力を測定するシステム、及びそれに使用される回路 |
| 英文摘要 | (修正有) 【課題】低バイアス電圧によって動作可能であり、レーザと光検出器との間の電気的分離を可能にするモノリシック集積化レーザ·光検出器構造のためのシステム及び回路を提供する。 【解決手段】レーザ·光検出器構造500は、VCSELタイプの発光素子520及び発光素子に光学的に結合される光検出器となるヘテロ接合フォトトランジスタ510とを有する。発光素子及びヘテロ接合フォトトランジスタはモノリシック集積化技術によってヘテロ接合フォトトランジスタ510が発光素子上に重なるように形成される。発光素子の接触部をヘテロ接合フォトトランジスタのエミッタと共通にすることにより、発光素子及びヘテロ接合フォトトランジスタに加えるためのバイアスを電気的に独立させることができ、且つ必要とされるバイアス電圧を比較的低くすることができる。 |
| 公开日期 | 2000-04-21 |
| 申请日期 | 1999-09-29 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92621]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | HEWLETT PACKARD CO |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | ダブラヴコ·アイ·バビック. 発光素子の光出力を測定するシステム、及びそれに使用される回路. JP2000114659A. 2000-04-21. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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