一种GaAs基半导体激光器的腔面钝化方法
文献类型:专利
作者 | 胡理科; 熊聪; 祁琼; 王冠; 马骁宇; 刘素平 |
发表日期 | 2010-09-01 |
专利号 | CN101820134A |
著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明申请 |
其他题名 | 一种GaAs基半导体激光器的腔面钝化方法 |
英文摘要 | 本发明公开了一种GaAs基半导体激光器的腔面钝化方法,包括:将解理好的激光器bar条放入硫化氨溶液中浸泡,对激光器bar条进行钝化处理,并在激光器bar条的前腔面和后腔面上沉积一层硫钝化层;用去离子水冲洗bar条,并用丙酮、异丙醇脱水后再用氮气吹干,然后装上镀膜架,放入MOCVD仪器中;对MOCVD仪器抽真空,开烘烤加热,并通入保护气体;先升高衬底温度,将硫钝化层中的非晶硫层升华,然后通入生长源,在硫饨化层上外延生长一层ZnSe钝化保护薄膜;降温后取出镀膜架,再放入镀膜机中,在激光器bar条的钝化保护薄膜之上镀上增透膜和高反膜。本发明有效去除了腔面氧化层和表面态,减少了对腔面的损伤。 |
公开日期 | 2010-09-01 |
申请日期 | 2010-04-21 |
状态 | 失效 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92807] ![]() |
专题 | 半导体激光器专利数据库 |
作者单位 | 中国科学院半导体研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 胡理科,熊聪,祁琼,等. 一种GaAs基半导体激光器的腔面钝化方法. CN101820134A. 2010-09-01. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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