一种半导体激光器的测试系统及测试方法
文献类型：专利
| 作者 | 詹敦平; 方文银 |
| 发表日期 | 2017-05-10 |
| 专利号 | CN106644401A |
| 著作权人 | 江苏飞格光电有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器的测试系统及测试方法 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种半导体激光器的工作性能检测技术，具体地说是一种半导体激光器的测试系统及测试方法，属于半导体光电器件的制造技术领域。它包括待测光器件以及用于放置待测光器件的高低温循环箱，待测光器件与一个能够为待测光器件提供电流的电流源连接，待测光器件还与一个能够测试其出光功率的光功率计连接，电流源和光功率计的输出信号端均连接到一台计算机上。采用上述的结构和方法后，可以方便、有效、迅速地进行检测，预先判定一个激光器的工作稳定性和失效模式，从而大大缩短了检验的周期和降低了检验的成本，同时对生产过程进行有效的管控，将产品成本降到最低，同时保障了客户利益，其测试的方法简单方便，测试系统搭建的成本低。 |
| 公开日期 | 2017-05-10 |
| 申请日期 | 2015-11-04 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/92996]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 江苏飞格光电有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 詹敦平,方文银. 一种半导体激光器的测试系统及测试方法. CN106644401A. 2017-05-10. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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