一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法
文献类型：专利
| 作者 | 杨扬; 孙素娟; 苏建; 江建民; 李沛旭; 徐现刚 |
| 发表日期 | 2016-10-05 |
| 专利号 | CN105988069A |
| 著作权人 | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法 |
| 英文摘要 | 一种半导体激光器的测试和老化装置，包括测试部和器件待测部；测试部包括有弹簧片、驱动弹簧片上下位移的固定块；弹簧片包括有开口回形弯曲段和L形测试段；在L形测试段的末端连接有绝缘块；在绝缘块上设置有两个彼此绝缘的弹簧针，分别将激光器COS或器件的正、负极接出；固定块包括C形开口，弹簧片的开口回形弯曲段设置在所述C形开口内，并通过贯穿于C形开口的螺钉对开口回形弯曲段挤压或释放，实现所述L形测试段与器件待测部之间的距离调节。本发明可实现对半导体激光器COS或器件的快速测试、分选及批量测试，也可在半导体激光器COS或器件的老化过程中实时的对各类参数进行检测，避免将不良品组装成器件导致的成本上升和原材料浪费。 |
| 公开日期 | 2016-10-05 |
| 申请日期 | 2015-01-29 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93017]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 山东华光光电子股份有限公司 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨扬,孙素娟,苏建,等. 一种半导体激光器的测试和老化装置及使用方法. CN105988069A. 2016-10-05. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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