中红外波段半导体激光器性能测量表征系统
文献类型：专利
| 作者 | 张永刚; 南矿军; 李爱珍 |
| 发表日期 | 2002-07-17 |
| 专利号 | CN1358986A |
| 著作权人 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明申请 |
| 其他题名 | 中红外波段半导体激光器性能测量表征系统 |
| 英文摘要 | 本发明涉及一种中红外波段半导体激光器性能测量表征系统,属于半导体测试技术领域。其特征是该硬件部分由5个部分组成,分别是傅里叶变换光谱仪并引入双调制技术的激射谱测量系统;基于宽范围脉冲信号发生器的驱动系统;基于数字示波器电流探头及中红外探测器的测量监控系统;基于通用平行接口卡的计算机控制系统;热沉致冷器和温度控制系统;软件部分的编程软件为CEC公司的TESTPOINT,并采用面向对象的编程方式。除具有测量器件的I－P,I－V特性和激射光谱特性的功能外,还可以宽范围地改变驱动脉冲参数对器件的输出特性以及热特性进行测量分析,并可采用可调步长在宽范围内对器件进行连续测量。 |
| 公开日期 | 2002-07-17 |
| 申请日期 | 2001-11-23 |
| 状态 | 失效 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/93055]  |
| 专题 | 半导体激光器专利数据库 |
| 作者单位 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张永刚,南矿军,李爱珍. 中红外波段半导体激光器性能测量表征系统. CN1358986A. 2002-07-17. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。