双能CT系统中物质密度的识别方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王辉3 ; 康南生3; 杨波3
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| 刊名 | 传感器与微系统
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| 出版日期 | 2010 |
| 卷号 | 000 |
| 关键词 | 双能量 连续谱X射线 计算机断层扫描成像技术 密度 毒品检测 |
| ISSN号 | 1000-9787 |
| 其他题名 | Recognition method of material density in dual-energy CT system |
| 英文摘要 | X射线装置已被证实具有揭示物质的分子或原子特性的能力，这种特性对于探测违禁品是相当重要的，是一种非常有效的安全检查方法，已广泛地应用于车站、机场等重要场所，针对连续谱X射线CT系统，提出了一种新型的基于双能量曲线的物质密度识别算法。首先通过高、低能图像灰度值标定出物质的双能量曲线图，然后采用反向查找的方法确定被探测物质的厚度，最后利用滤波反投影重建算法重建出物质电子密度的分布，可以较快速高效地得到被探测物质的密度信息，并结合skyscan1076 CT机试验平台，验证了该算法的正确性，实验结果相对误差较小。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:4023604 |
| 源URL | [http://ir.hfcas.ac.cn:8080/handle/334002/48886]  |
| 专题 | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 作者单位 | 1.中国科学院合肥智能机械研究所 2.中国科学院合肥智能机械研究所 3.中国科学院合肥智能机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王辉,康南生,杨波. 双能CT系统中物质密度的识别方法[J]. 传感器与微系统,2010,000. |
| APA | 王辉,康南生,&杨波.(2010).双能CT系统中物质密度的识别方法.传感器与微系统,000. |
| MLA | 王辉,et al."双能CT系统中物质密度的识别方法".传感器与微系统 000(2010). |
入库方式： OAI收割
来源：合肥物质科学研究院
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